Inserts de mesure

Inserts pour mesure de la réflexion et de la réflectance répondant aux exigences les plus diverses, permettent d'analyser le coefficient de réfraction, l'épaisseur de couche ou les indices colorimétriques des échantillons liquides, solides ou poudreux. Ceci simplifie par ex. l'analyse de matériaux ou le contrôle de la pureté de certaines substances.

	Insert de mesure pour le degré de réflexion absolu Répartition du faisceau en forme de V/W pour déterminer le degré de réflexion absolu sur les surfaces planes et les couches.
	Insert pour mesures de la réflexion dans différents angles de réflexion, de 11°- 60° Pour l'analyse des surfaces d'échantillons solides, systèmes de couches et leurs interfaces.
	Insert pour mesure de la réflectance avec une sphère photométrique en Spectralon Pour les mesures de la transmission et de la réflectance des échantillons solides et liquides (même les poudres)
	Support d'échantillons solides Support pour films, plaques d'échantillons ou échantillons solides similaires. Défini pour les mesures de transmission.
	Insert d'analyse scanner pour échantillons solides L'insert d'analyse scanner pour échantillons solides permet d'obtenir des spectres à résolution locale des échantillons à grande surface solides et transparents.